粒子沉積速率測(cè)量?jī)x是Winlight 超凈間監(jiān)測(cè)顆粒沉降速率的顆粒沉降速度測(cè)試儀器,廣泛用于光學(xué)、激光、醫(yī)療設(shè)備、醫(yī)藥和化妝品等敏感表面時(shí)的安全操作。
潔凈室超凈間有助于在處理產(chǎn)品或患者時(shí)減少有害空氣顆粒的污染。然而，殘留的顆?？赡軙?huì)影響最終產(chǎn)品的操作質(zhì)量。粒子沉積速率測(cè)量?jī)x對(duì)空氣中的顆粒自然沉降并沉積在玻璃收集分析表面（100cm^2）上。
粒子沉積速率測(cè)量?jī)x可以根據(jù)需要水平或垂直定向，以便盡可能代表要監(jiān)控的對(duì)象或過(guò)程。沉積在玻璃收集表面上的顆粒由專門設(shè)計(jì)的成像和照明系統(tǒng)檢測(cè)、測(cè)量和記錄，該系統(tǒng)掃描玻璃收集表面。光學(xué)頭在7分鐘內(nèi)掃描整個(gè)分析區(qū)域。由于其高分辨率相機(jī)與顯微鏡物鏡相結(jié)合，可以實(shí)時(shí)檢測(cè)、計(jì)數(shù)和分選>5µm、>15µm、>25µm和100µm的顆粒。
該設(shè)備可以根據(jù)需要水平或垂直定向，以便盡可能代表要監(jiān)控的對(duì)象或過(guò)程。

規(guī)格參數(shù)
探測(cè)器部分
像素大?。?μm
掃描像素?cái)?shù)：1970百萬(wàn)像素
不需定期校準(zhǔn)（自校準(zhǔn)）
探測(cè)輸出部分
可檢測(cè)到的微粒粒徑：≥5μm
根據(jù)您的預(yù)定義標(biāo)準(zhǔn)：>5–>15–>25–>50–>100μm（例如IEST 1246D）
測(cè)量時(shí)間：?7 min/掃描
按表排序的數(shù)據(jù)
第一次和最后一次掃描圖像可用
掃描編程（日期和頻率）
累計(jì)輸出和按事件
顆粒探測(cè)表面窗口：100平方厘米，SiO2玻璃材料（可根據(jù)要求提供其他透明玻璃）
相機(jī)炫目自動(dòng)測(cè)試
潔凈室適用性：ISO 4（ISO14644-1，GMP）
符合CE標(biāo)準(zhǔn)