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本測量設備是用于各種材料散射特性測量。通過光源一維旋轉，探測器二維旋轉實現不同入射和反射（透射）幾何條件下樣品反射、透射輻亮度的測量。系統包括準直光源、光源支架、可調樣品支架、探測器、探測器旋轉機構、探測器支架及測試軟件等部分。
BRDF/BTDF測試儀主要測試參數
?復色光和單色光BRDF
?復色光和單色光BTDF
?不同角度反射透射光通量
?不同角度反射透射輻射亮度
?材料不同角度散射光色溫，色坐標
BRDF/BTDF測試儀系統結構
1. 光源
?為提高樣品散射信號的信噪比，采用寬光譜高亮度鹵鎢燈作為光源，并通過準直透鏡將光線準直后出射到樣品上。
?可通過調節透鏡焦距，實現不同大小光斑。
?光源還可增加濾光片，實現不同顏色單色光入射。
2.探測器
?采用硅探測器，探測范圍350nm-1000nm。
?探測器將光信號轉換為電信號，由鎖相放大器放大并根據斬波器頻率提取信號獲得光譜DN值。
3.軟件部分
為了提高測量速度和精度，特別為裝置開發了測控軟件，支持多種幾何條件下散射特性一次性自動測量。首先進行光源入射輻亮度測量，而后對樣品漫射板設定幾何條件反射輻亮度進行測量，如此循環直至完成所有設定幾何條件的散射特性測量為止，軟件直接輸出散射特性曲線。
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