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Fischerscope x-ray xan120熒光x射線測厚儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN系列配置多樣，能夠滿足十分普遍的應用。它在快速精確剖析和用戶友好操作方面具備特殊的優勢，如用于貴金屬和金合金的剖析。也能夠用于電子和線路板行業薄鍍層剖析。一切型號的硬件部件的裝置位置相同。X射線管和探測器位于丈量室的下方。丈量方向從下到上。這樣就能夠快速便當地放置樣品。XAN系列儀器依據X射線管，探測器，準直器和濾片數目的不同有幾個版本可供選擇。因而，XAN系列能夠為各種應用和精度請求提供*優的處理計劃，同時具備良好的本錢效益。XAN儀器的分類中也包括硬件和軟件特地設計用于滿足珠寶行業和黃金行業特別需求的型號。
典型應用領域：
珠寶和手表行業金和貴金屬分析
測量幾個納米的*薄鍍層，如印刷線路板和電子元件上的Au和Pd。
痕量分析（如電子元件(RoHS)或工具中的有害物質）
用XAN 150分析諸如Al，Si，P等輕元素
實驗室，測試機構和大學里一般性的材料分析和鍍層厚度測量
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