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光焱科技PD-QE第三代半導體材料光傳感器特性分析儀
光焱科技最新推出PD-QE測試系統，針對第三代半導體材料Photodiode/Photodetector的相關特性測試，整合最新高精密直流可耐電壓偵測技術，與傳統交流模式下測量EQE使用鎖相放大器、電壓無法加過12V相比，該系統最高可輸出1000V高壓，電流量程為2pA，精度達0.1fA，可滿足客戶多種量測需求。
使用均勻光斑的"照度模式" (Irradiance Mode) 符合ASTM E1021；
取代傳統聚焦小光斑，可以測試um等級的光電傳感器；
均勻光斑可以克服色散差與像差的問題，可準確測得EQE曲線；
可搭配多種探針臺系統，實現非破壞性的快速測試；
集成的光學與測試系統，提高系統搭建效率；
一鍵式自動化測試軟件，自動全光譜校正與測量，工作效率高。
外部量子效率EQE
光譜響應SR
I-V曲線測量
NEP光譜測量
D*光譜測量
Noise-current-frequency響應圖 (A/Hz-1/2; 0.01Hz~1,000Hz)
Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析
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