會(huì)員.png)
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MiniTest 730膜厚儀
標(biāo)準(zhǔn)配置：
帶塑料手提箱，內(nèi)含：
主機(jī):
-MiniTest 720(內(nèi)置探頭)一個(gè)--或MiniTest 730（外置探頭）一個(gè)--或MiniTest 740主機(jī)（不含探頭，有各種探頭可選）{根據(jù)客戶(hù)選擇型號(hào)而定}
-校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)套裝：含校準(zhǔn)片和歸零基板
-操作使用說(shuō)明CD，可用選擇語(yǔ)言：德語(yǔ)、英語(yǔ)、法語(yǔ)、西班牙語(yǔ)
-2節(jié)AA供電電池
elektrophysikMiniTest 730膜厚儀
SIDSP探頭技術(shù)參數(shù)：
探頭 特性 | F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5 | F2 | F5，N2.5，F(xiàn)N5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
測(cè)量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范圍 | 小工件，薄涂層，跟測(cè)量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | ||
測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
信號(hào)處理 | 探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理（SIDSP） | |||||
度 | ±（1μm+0.75%讀值） | ±（1.5μm+0.75%讀值） | ±（5μm+0.75%讀值） | |||
重復(fù)性 | ±（0.5μm+0.5%讀值） | ±（0.8μm+0.5%讀值） | ±（2.5μm+0.5%讀值） | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
zui小曲率半徑（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
zui小曲率半徑（凹，外置探頭） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
zui小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
zui小測(cè)量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
連續(xù)模式下測(cè)量速度 | 每秒20個(gè)讀數(shù) | |||||
單值模式下zui大測(cè)量速度 | 每分鐘70個(gè)讀數(shù) | |||||
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