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觸摸式按鈕設計。
測量精度≤±5% (JIS Epstein方法比較)。
磁通密度按1.0/1.5/1.7T三檔切換。
大和小雙測試探頭配置，小探頭Z小測試寬度8mm以上。
RS-232C通訊接口，可外接小型打印機(增選件)。
產品簡介
詳細介紹
【特 征】
觸摸式按鈕設計。
測量精度≤±5% (JIS Epstein方法比較)。
磁通密度按1.0/1.5/1.7T三檔切換。
大和小雙測試探頭配置，小探頭zui小測試寬度8mm以上。
RS-232C通訊接口，可外接小型打印機(增選件)。
【功 能】
·測試范圍：0.10～19.99 W/kg；
·磁通密度：1.0T、1.5T、1.7T；
·試樣厚度：0.05～0.99mm；
·試樣寬度：zui小2mm (5mm以上保證設計精度，形狀不規則(非長方形)的復雜沖壓片，可任意設定相近的有效寬度)；
·測試精度：≤±5% (JIS Epstein方圈法比較)；
·測試頻率：50Hz/60Hz；
·使用電源：AC100-240V。
【尺寸重量】
·主 機(81M/DAC-IR-3)尺寸:W(188)×H(103)×D(287) mm
·重 量：主機 約5 Kg