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電能表高溫老化房主要功能：為了達到滿意的合格率，幾乎所有產(chǎn)品在出廠前都要先藉由電能表老化。制造商如何才能夠在不縮減老化時間的條件下提高其效率?本文介紹在老化過程中進行功能測試的新方案，以降低和縮短老化過程所帶來的成本和時間問題。
電能表高溫老化房在半導體業(yè)界，器件的老化問題一直存在各種爭論。像其它產(chǎn)品一樣，半導體隨時可能因為各種原因而出現(xiàn)故障，電能表老化就是藉由讓半導體進行超負荷工作而使缺陷在短時間內(nèi)出現(xiàn)，避免在使用早期發(fā)生故障。如果不藉由老化，很多半導體成品由于器件和制造制程復(fù)雜性等原因在使用中會產(chǎn)生很多問題。
在開始使用后的幾小時到幾天之內(nèi)出現(xiàn)的缺陷(取決于制造制程的成熟程度和器件總體結(jié)構(gòu))稱為早期故障，電能表老化之后的器件基本上要求100%消除由這段時間造成的故障。準確確定老化時間的*方法是參照以前收集到的老化故障及故障分析統(tǒng)計數(shù)據(jù)。
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