SM-112厚度計簡介：
為減少被測材料在運動中因抖動引起測量結果的誤差，故采用差動測量方式。接近被測金屬材料表面的檢測線圈L與測量電路中的電容構成諧振回路,而在線圈中產生高頻交變磁場,并在被測金屬中感應出渦流。渦流損耗與被測金屬材料的表面到檢測線圈距離x1、x2 有關。渦流產生的感應電磁場又反作用于線圈L上,使其品質因素Q值、等效阻抗Z、等效電感L都發生相應的改變。通過測量電路將Q值、Z值或L值轉變為檢波信號電壓的幅值或頻率值變化，經加法器運算后即可測出厚度。這種厚度計有較高的動態精度。
SM-112厚度計
日本德樂（TECLOCK）厚度計 SM-112的詳細介紹
| 日本得樂牌測厚規 | | 型號 | 目量 | 測定范圍 | 測定力（N.gf） | 短針 | 測定子形狀（上） | 測定子形狀（下） | | SM-112 | 0.01 | 10 | 2.5（250） | 有 | φ10平 | φ10平 | | SM-112LS | Sφ3.2（1/8） | φ10平 | | SM-112LW | Sφ3.2（1/8） | Sφ3.2（1/8） | | SM-112-3A | φ5平 | φ5平 | | SM-528 | 0.01 | 20 | 3.5（350） | 有 | φ10平 | φ10平 | | SM-528LS | Sφ3.2（1/8） | φ10平 | | SM-528LW | Sφ3.2（1/8） | Sφ3.2（1/8） | | SM-528-3A | φ5平 | φ5平 | | SM-114 | 0.01 | 10 | 2.5（250） | 有 | φ10平 | φ10平 | | SM-114LS | Sφ3.2（1/8） | φ10平 | | SM-114LW | Sφ3.2（1/8） | Sφ3.2（1/8） | | SM-124 | 0.01 | 20 | 3.5（350） | 有 | φ10平 | φ10平 | | SM-124LS | φSφ3.2（1/8） | φ10平 | | SM-124LW | Sφ3.2（1/8） | Sφ3.2（1/8） | | SM-123 | 0.01 | 20 | 3.5（350） | 有 | φ10平 | φ10平 | | SM-130 | 0.01 | 50 | 2.2（220） | 有 | φ10平 | φ10平 | | SM-130LS | Sφ3.2（1/8） | φ10平 | | SM-130LW | Sφ3.2（1/8） | Sφ3.2（1/8） | | SM-1201 | 0.001 | 10 | 1.5（150） | 有 | φ8.5平（超硬） | φ8.5平（超硬） | | SM-1201LS | Sφ3（超硬） | Sφ8.5平（超硬） | | SM-1201LW | Sφ3（超硬） | Sφ3平（超硬） | | | |
您好, 歡迎來到化工儀器網
