產(chǎn)品特點(diǎn)及用途

• 適用于電工、電子零部件、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料、軸承、顯示屏等各種材料，在溫度急劇變化環(huán)境下對產(chǎn)品的破壞性能試驗(yàn)；
• 試驗(yàn)箱上部為高溫區(qū)，下部為低溫區(qū)，試件放置在試驗(yàn)箱中部工作室內(nèi)，高溫沖擊時上風(fēng)門打開，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時，上風(fēng)門關(guān)閉，下風(fēng)門打開，形成低溫內(nèi)循環(huán)，如有需要還可以與環(huán)境溫度連通，形成三箱法實(shí)驗(yàn)；
• 試件靜止不動，避免了因試件移動帶來之諸多不便；
• 中英文界面，數(shù)字顯示，直觀易讀；
• 溫度偏移修正，滿足您更為準(zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)要求；
• 主要零部件采用進(jìn)口件，確保試驗(yàn)箱具有*的可靠性；
• 多重保護(hù)功能，確保試驗(yàn)箱具有*的可靠性。

高低溫沖擊試驗(yàn)箱 執(zhí)行及滿足標(biāo)準(zhǔn)

• GB-2423.1 低溫試驗(yàn)方法；
• GB-2423.2 高溫試驗(yàn)方法；
• GB-2423.22 溫度沖擊試驗(yàn)；
• GJB150.5   溫度沖擊試驗(yàn)；
• MIL-STD-810F-503.4

高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)

• 溫度波動度：≤±0.5℃
• 溫度偏差：≤±2℃
• 高溫室升溫時間：RT～200℃≤30min
• 低溫室降溫時間：RT～-60℃≤60min
• 溫度恢復(fù)時間：≤5min
• 風(fēng)  門  開  啟：≤5s