HORIBA堀場高靈敏度熒光光譜儀Duetta™ 熒光光譜儀同時結合了熒光光譜儀和吸收光譜儀的功能。它標配超快先進的 CCD 技術，能在 100 毫秒內獲得 250 nm-1100 nm的全范圍光譜，讓它的采集速度數倍優于其他使用 PMT 的熒光光譜儀。
HORIBA堀場高靈敏度熒光光譜儀

• 同步吸收 - 熒光光譜儀

• UV-Vis-NIR 熒光檢測波長范圍 250 nm-1100 nm

• 一秒內獲取三維熒光全譜

• 高熒光靈敏度，水拉曼 RMS 6000:1

• 自動校準主次內濾效應

• 先進的 A-TEEM ™ 指紋熒光技術，高保真識別分子指紋

• CCD 檢測器實現毫秒內完成整個熒光光譜采集

熒光及吸收合二為一的光譜儀 !

Duetta 可作為熒光光譜儀使用，也可以作為 UV-Vis-NIR 光譜儀 測量吸光度，或用于測量真實的分子指紋，這需要同步獲取 熒光和吸光度，同時進行內濾效應校正。
 

瞬間獲得熒光光譜!

Duetta 標配超快先進的 CCD 技術，讓它在采集速度的數倍優于任何使用 PMT 的熒光光譜儀。Duetta 是少見的能在 100 毫秒內 獲得 250 nm-1100 nm 校正光譜信息的一體式熒光光譜儀。這一先進的 CCD 技術也將近紅外檢測光譜范圍擴展到 1100 nm， 遠超過標準 PMT 熒光儀的光譜范圍。
 

高靈敏度

經過優化設計的 Duetta，擁有高水平的靈敏度，意味著可測更低濃度的樣品，并提供更準確的數據
 

EzSpec™ 觸屏操作軟件!

Duetta 使用 HORIBA 新一代 EzSpec 軟件，使熒光光譜儀從此進入了智能觸屏時代，生動立體的人機互動，量身定制的用戶體驗；升級常規分析用軟件模塊，可具有定制化、個性化分析測試。
 

全新光譜儀設計

同步測試吸收和熒光

Duetta 的兩個獨立檢測器，可同時收集與激發光成直角的熒光和透射光路的吸光度

各類日系工業品:,SSD西西蒂(離子風扇)、AND愛安得（電子天平）、SAN-EI三英(點膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機,USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機,IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機,lambda拉姆達膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設備、顯影）、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克（檢查光源）、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學膜厚儀）、KOSAKA小坂（臺階儀）、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學（環境測定）、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）、yamada山田鹵素強光燈、CEDAR思達